日立 CD-SEM 9220: 提升纳米成像和分析的尖端解决方案240

日立 CD-SEM 9220 是一款突破性的冷场发射扫描电子显微镜 (CD-SEM)，专为满足现代纳米技术和材料科学的严苛要求而设计。凭借其卓越的分辨率、高灵敏度和多功能性，这款尖端 SEM 为广泛的行业和研究领域提供了无与伦比的成像和分析能力。

卓越的分辨率和成像质量

CD-SEM 9220 配备了先进的电子光学系统，可提供高达 1 纳米的出色分辨率。这使得研究人员能够获得样品的原子级细节，从而深入了解材料的结构和表面形态。

此外，该显微镜采用了热场发射 (FE) 电子枪，可产生高亮度电子束，提高信噪比并改善成像质量。结果是对比度高、清晰的图像，即使在高放大率下也能获得。

极高的灵敏度和分析能力

CD-SEM 9220 采用了灵敏的探测器和成像技术，可检测极弱的信号。这使其能够对纳米级特征进行高灵敏度分析，例如缺陷、杂质和界面。

显微镜还配备了各种分析功能，包括能量色散 X 射线光谱 (EDS)、电子背散射衍射 (EBSD) 和猫背散射 (CBS)。这些技术使研究人员能够表征材料的化学组成、晶体结构和表面拓扑。

多功能性和易用性

CD-SEM 9220 是一款高度多功能的显微镜，可用于各种成像和分析模式。除了传统的二级电子 (SE) 成像外，显微镜还支持回散电子 (BSE) 成像、透射电子显微镜 (TEM) 成像和阴离子成像。

该显微镜还具有用户友好的界面和直观的软件，使研究人员能够轻松快捷地设置参数、捕获图像和进行分析。先进的自动对焦和样品导航功能进一步简化了操作。

应用领域

日立 CD-SEM 9220 在广泛的行业和研究领域中具有广泛的应用，包括：

日立 CD-SEM 9220 是一款革命性的冷场发射扫描电子显微镜，为纳米技术和材料科学领域的研究人员提供了无与伦比的成像和分析能力。凭借其卓越的分辨率、极高的灵敏度和多功能性，这款尖端显微镜可以解决最具挑战性的成像需求，从而推动科学和技术的进步。

2024-10-20

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